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01/21
2021
壞像素文件
詳細內(nèi)容壞像素列表文件
壞像素是在圖像傳感器制程中和使用過程中產(chǎn)生的，壞像素的存在是DDA探測器的一個普遍現(xiàn)象，只是類型和嚴重程度不同而已。壞像素的標注和校正方法對于不同的探測器制造商是有差別的，制造商提供壞像素的修正步驟和方法。對于指定的探測器，制造商會提供出廠時的壞點像素文件，這屬于供貨范圍之內(nèi)。 （一）|壞像素定義
通常將以下7種狀態(tài)的像素定義為壞像素。
（a）死像素
指無響應的像素和響應不隨射線劑量變化的像素。
（b）過響應像素
像素的灰度值大于其所在的21x21鄰域中灰度中值1.3倍的像素。
（c）欠響應像素
像素灰度值小于21x21鄰域中灰度中值0.6倍的像素。
（d）噪點像素
在30至100幀序列的無射線照射圖像中，像素灰度值的標準偏差超過整個DDA標準偏差中值6倍的像素。
（e）不均勻像素
像素灰度值與9x9鄰域的灰度平均值偏差超過±1%的像素。該測試在本底和增益修正圖像上完成，要求平均灰度值達到或超過DDA線性范圍的75%時進行測試。
（f）殘影/延遲像素
X射線關(guān)閉后，像素灰度值超過了首個采集圖像中9x9鄰近內(nèi)像素灰度中值2倍的像素。
（g）鄰近壞點像素
像素的全部8個鄰近像素均為壞點，也將視為壞點像素。
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01/21
2021
瑞奇戈德一非晶硅薄膜晶體管（a-Si：H TFT）——之一
詳細內(nèi)容薄膜晶體管（TFT）是平板顯示器制造行業(yè)的核心技術(shù)，其價值相當于硅芯片對計算機行業(yè)的影響。在20世紀60年代發(fā)明液晶顯示技術(shù)的初期，使用簡單的X-Y電極尋址方式對液晶顯示器像素進行尋址，顯示圖像存在大量的串擾，即一個像素會被鄰近像素的變化所干擾；后來提出了在每一個X-Y電極的交叉點設(shè)計一個具有開關(guān)作用的TFT薄膜晶體管和一個電容，用電容來存儲和保持施加在該像素液晶上的電壓。最早都是使用CdSe作為 TFT的有源層，1980年前后開始研究使用非晶硅材料做有源層的TFT特性。相比純非晶硅，氫化非晶硅（a-Si：H）能通過施主和受主摻雜來分別形成N型和P型半導體材料，氫能鈍化在非晶硅散亂網(wǎng)格中的由位于禁帶中的大量懸掛鍵引起的缺陷態(tài)，鈍化過程使得非晶硅具有類似晶體硅的特性。
盡管CdSe比a-Si：H的遷移率更高，但它是一種多晶態(tài)化合物半導體，它的特性受晶粒尺寸、晶界界面態(tài)和化學計量比等因素影響，且對周圍的水汽和氧氣敏感。a-Si：H無晶界、通過氫的鈍化作用既不改變本體特性，又提高了其電學特性。a-Si：H TFT由于具有優(yōu)良的電學特性、可在玻璃基板上制作，能部分集成周邊驅(qū)動電路等特點，目前已經(jīng)是應用最廣、工藝最穩(wěn)定、適合于批量生產(chǎn)的TFT技術(shù)。
選自《射線數(shù)字成像技術(shù)》｜ 作者：孫忠誠 -
01/21
2021
智能射線檢測技術(shù)研討——技術(shù)特征
詳細內(nèi)容技術(shù)特征
智能射線檢測技術(shù)的終極目標是成為智能制造項目建設(shè)中設(shè)備層級的質(zhì)量檢測裝備，其基本特征是具有在線、柔性、智能、可追溯和故障預警等功能。
一設(shè)備在線安裝
智能制造工廠的設(shè)計多采用現(xiàn)代物流技術(shù)通過產(chǎn)品的合理流動來保證生產(chǎn)節(jié)拍。
二使用柔性機械
以機器人為代表的柔性機械系統(tǒng)的應用，是智能檢測設(shè)備制造的必然選擇。
在實際案例中，機器人可以抓取零件也可以抓取射線源——探測器；常見的是使用一臺機器人，但使用兩臺及以上機器人進行協(xié)同作業(yè)經(jīng)常會出現(xiàn)在大型零部件的檢測場合。
目前，采用機器視覺技術(shù)對產(chǎn)品類別和擺放姿態(tài)進行自動識別，然后自動對機器人進行導航來拾取零件也是一種常見的技術(shù)，這樣可以使得檢測系統(tǒng)更加智能化。
三缺陷自動識別
缺陷自動識別技術(shù)是射線智能檢測設(shè)備制造的核心技術(shù)，作用是代替檢測人員完成缺陷識別、歸類、嚴重性評估和依據(jù)產(chǎn)品驗收標準做出合格（OK）/不合格（NG）的判定結(jié)論。
從嚴格意義上來講，具有缺陷自動識別（ADR）功能的檢測系統(tǒng)才能被稱之為智能檢測設(shè)備。相對而言，系統(tǒng)采用的其它智能化技術(shù)如：零件自動識別、擺放姿態(tài)自動識別、故障自動預警等都是增加系統(tǒng)智能化水平的輔助項。
毫無疑問，缺陷自動識別（ADR）技術(shù)是智能檢測技術(shù)面對的一個巨大挑戰(zhàn)，所以被譽為智能檢測設(shè)備皇冠上的翡翠！
評價缺陷自動識別（ADR）技術(shù)的兩個重要指標是缺陷漏檢和誤判率，在GB/T 35388-2017的9.3節(jié)做了詳細的規(guī)定。即：不允許存在缺陷（尤其是危險缺陷和超標缺陷）未能識別出來的情況，將偽缺陷識別為真缺陷進而將產(chǎn)品判為不合格（NG）的幾率不得超過4%。但該標準沒有進一步給出漏檢和誤判率如何測量和驗證的方法。
四具有質(zhì)量追溯功能
產(chǎn)品質(zhì)量可追溯是智慧制造對生產(chǎn)和檢驗設(shè)備提出的基本要求。
智能射線檢測設(shè)備一般都需要與企業(yè)建立的基于產(chǎn)品編碼（相當于產(chǎn)品的身份證）的質(zhì)量追溯系統(tǒng)進行網(wǎng)絡(luò)連接，實現(xiàn)產(chǎn)品檢測設(shè)備、過程和參數(shù)（如：探測器型號和設(shè)置的參數(shù)、射線源型號和曝光參數(shù)、檢測位置、缺陷位置、缺陷類別、缺陷參數(shù)、評估結(jié)果等)的可追溯性。
五具有故障預警功能
根據(jù)設(shè)備運行規(guī)律或數(shù)據(jù)變化趨勢，在設(shè)備真正發(fā)生故障之前，及時發(fā)現(xiàn)設(shè)備的異常狀況并進行相關(guān)的報警推送，我們把這一過程稱之為故障預警。故障預警的目的在于在發(fā)生故障的早期進行設(shè)備的及時保養(yǎng)和采取針對性維護策略，將設(shè)備的潛在隱患消除。
采用設(shè)備生命周期管理技術(shù)，通過采集檢測設(shè)備中各關(guān)鍵組件的相關(guān)參數(shù)，建立設(shè)備的故障模型并進行預警，是保證智能檢測設(shè)備開機率的重要措施。