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01/21
2021
壞像素文件
詳細(xì)內(nèi)容壞像素列表文件
壞像素是在圖像傳感器制程中和使用過程中產(chǎn)生的，壞像素的存在是DDA探測(cè)器的一個(gè)普遍現(xiàn)象，只是類型和嚴(yán)重程度不同而已。壞像素的標(biāo)注和校正方法對(duì)于不同的探測(cè)器制造商是有差別的，制造商提供壞像素的修正步驟和方法。對(duì)于指定的探測(cè)器，制造商會(huì)提供出廠時(shí)的壞點(diǎn)像素文件，這屬于供貨范圍之內(nèi)。 （一）|壞像素定義
通常將以下7種狀態(tài)的像素定義為壞像素。
（a）死像素
指無響應(yīng)的像素和響應(yīng)不隨射線劑量變化的像素。
（b）過響應(yīng)像素
像素的灰度值大于其所在的21x21鄰域中灰度中值1.3倍的像素。
（c）欠響應(yīng)像素
像素灰度值小于21x21鄰域中灰度中值0.6倍的像素。
（d）噪點(diǎn)像素
在30至100幀序列的無射線照射圖像中，像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)偏差超過整個(gè)DDA標(biāo)準(zhǔn)偏差中值6倍的像素。
（e）不均勻像素
像素灰度值與9x9鄰域的灰度平均值偏差超過±1%的像素。該測(cè)試在本底和增益修正圖像上完成，要求平均灰度值達(dá)到或超過DDA線性范圍的75%時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
（f）殘影/延遲像素
X射線關(guān)閉后，像素灰度值超過了首個(gè)采集圖像中9x9鄰近內(nèi)像素灰度中值2倍的像素。
（g）鄰近壞點(diǎn)像素
像素的全部8個(gè)鄰近像素均為壞點(diǎn)，也將視為壞點(diǎn)像素。
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01/21
2021
瑞奇戈德一非晶硅薄膜晶體管（a-Si：H TFT）——之一
詳細(xì)內(nèi)容薄膜晶體管（TFT）是平板顯示器制造行業(yè)的核心技術(shù)，其價(jià)值相當(dāng)于硅芯片對(duì)計(jì)算機(jī)行業(yè)的影響。在20世紀(jì)60年代發(fā)明液晶顯示技術(shù)的初期，使用簡(jiǎn)單的X-Y電極尋址方式對(duì)液晶顯示器像素進(jìn)行尋址，顯示圖像存在大量的串?dāng)_，即一個(gè)像素會(huì)被鄰近像素的變化所干擾；后來提出了在每一個(gè)X-Y電極的交叉點(diǎn)設(shè)計(jì)一個(gè)具有開關(guān)作用的TFT薄膜晶體管和一個(gè)電容，用電容來存儲(chǔ)和保持施加在該像素液晶上的電壓。最早都是使用CdSe作為 TFT的有源層，1980年前后開始研究使用非晶硅材料做有源層的TFT特性。相比純非晶硅，氫化非晶硅（a-Si：H）能通過施主和受主摻雜來分別形成N型和P型半導(dǎo)體材料，氫能鈍化在非晶硅散亂網(wǎng)格中的由位于禁帶中的大量懸掛鍵引起的缺陷態(tài)，鈍化過程使得非晶硅具有類似晶體硅的特性。
盡管CdSe比a-Si：H的遷移率更高，但它是一種多晶態(tài)化合物半導(dǎo)體，它的特性受晶粒尺寸、晶界界面態(tài)和化學(xué)計(jì)量比等因素影響，且對(duì)周圍的水汽和氧氣敏感。a-Si：H無晶界、通過氫的鈍化作用既不改變本體特性，又提高了其電學(xué)特性。a-Si：H TFT由于具有優(yōu)良的電學(xué)特性、可在玻璃基板上制作，能部分集成周邊驅(qū)動(dòng)電路等特點(diǎn)，目前已經(jīng)是應(yīng)用最廣、工藝最穩(wěn)定、適合于批量生產(chǎn)的TFT技術(shù)。
選自《射線數(shù)字成像技術(shù)》｜ 作者：孫忠誠(chéng) -
01/21
2021
智能射線檢測(cè)技術(shù)研討——技術(shù)特征
詳細(xì)內(nèi)容技術(shù)特征
智能射線檢測(cè)技術(shù)的終極目標(biāo)是成為智能制造項(xiàng)目建設(shè)中設(shè)備層級(jí)的質(zhì)量檢測(cè)裝備，其基本特征是具有在線、柔性、智能、可追溯和故障預(yù)警等功能。
一設(shè)備在線安裝
智能制造工廠的設(shè)計(jì)多采用現(xiàn)代物流技術(shù)通過產(chǎn)品的合理流動(dòng)來保證生產(chǎn)節(jié)拍。
二使用柔性機(jī)械
以機(jī)器人為代表的柔性機(jī)械系統(tǒng)的應(yīng)用，是智能檢測(cè)設(shè)備制造的必然選擇。
在實(shí)際案例中，機(jī)器人可以抓取零件也可以抓取射線源——探測(cè)器；常見的是使用一臺(tái)機(jī)器人，但使用兩臺(tái)及以上機(jī)器人進(jìn)行協(xié)同作業(yè)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)在大型零部件的檢測(cè)場(chǎng)合。
目前，采用機(jī)器視覺技術(shù)對(duì)產(chǎn)品類別和擺放姿態(tài)進(jìn)行自動(dòng)識(shí)別，然后自動(dòng)對(duì)機(jī)器人進(jìn)行導(dǎo)航來拾取零件也是一種常見的技術(shù)，這樣可以使得檢測(cè)系統(tǒng)更加智能化。
三缺陷自動(dòng)識(shí)別
缺陷自動(dòng)識(shí)別技術(shù)是射線智能檢測(cè)設(shè)備制造的核心技術(shù)，作用是代替檢測(cè)人員完成缺陷識(shí)別、歸類、嚴(yán)重性評(píng)估和依據(jù)產(chǎn)品驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)做出合格（OK）/不合格（NG）的判定結(jié)論。
從嚴(yán)格意義上來講，具有缺陷自動(dòng)識(shí)別（ADR）功能的檢測(cè)系統(tǒng)才能被稱之為智能檢測(cè)設(shè)備。相對(duì)而言，系統(tǒng)采用的其它智能化技術(shù)如：零件自動(dòng)識(shí)別、擺放姿態(tài)自動(dòng)識(shí)別、故障自動(dòng)預(yù)警等都是增加系統(tǒng)智能化水平的輔助項(xiàng)。
毫無疑問，缺陷自動(dòng)識(shí)別（ADR）技術(shù)是智能檢測(cè)技術(shù)面對(duì)的一個(gè)巨大挑戰(zhàn)，所以被譽(yù)為智能檢測(cè)設(shè)備皇冠上的翡翠！
評(píng)價(jià)缺陷自動(dòng)識(shí)別（ADR）技術(shù)的兩個(gè)重要指標(biāo)是缺陷漏檢和誤判率，在GB/T 35388-2017的9.3節(jié)做了詳細(xì)的規(guī)定。即：不允許存在缺陷（尤其是危險(xiǎn)缺陷和超標(biāo)缺陷）未能識(shí)別出來的情況，將偽缺陷識(shí)別為真缺陷進(jìn)而將產(chǎn)品判為不合格（NG）的幾率不得超過4%。但該標(biāo)準(zhǔn)沒有進(jìn)一步給出漏檢和誤判率如何測(cè)量和驗(yàn)證的方法。
四具有質(zhì)量追溯功能
產(chǎn)品質(zhì)量可追溯是智慧制造對(duì)生產(chǎn)和檢驗(yàn)設(shè)備提出的基本要求。
智能射線檢測(cè)設(shè)備一般都需要與企業(yè)建立的基于產(chǎn)品編碼（相當(dāng)于產(chǎn)品的身份證）的質(zhì)量追溯系統(tǒng)進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)連接，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品檢測(cè)設(shè)備、過程和參數(shù)（如：探測(cè)器型號(hào)和設(shè)置的參數(shù)、射線源型號(hào)和曝光參數(shù)、檢測(cè)位置、缺陷位置、缺陷類別、缺陷參數(shù)、評(píng)估結(jié)果等)的可追溯性。
五具有故障預(yù)警功能
根據(jù)設(shè)備運(yùn)行規(guī)律或數(shù)據(jù)變化趨勢(shì)，在設(shè)備真正發(fā)生故障之前，及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備的異常狀況并進(jìn)行相關(guān)的報(bào)警推送，我們把這一過程稱之為故障預(yù)警。故障預(yù)警的目的在于在發(fā)生故障的早期進(jìn)行設(shè)備的及時(shí)保養(yǎng)和采取針對(duì)性維護(hù)策略，將設(shè)備的潛在隱患消除。
采用設(shè)備生命周期管理技術(shù)，通過采集檢測(cè)設(shè)備中各關(guān)鍵組件的相關(guān)參數(shù)，建立設(shè)備的故障模型并進(jìn)行預(yù)警，是保證智能檢測(cè)設(shè)備開機(jī)率的重要措施。